2/3
Nr opisu: 0000027038 Autorzy: Dorota Plewik, Tomasz Marek Grudniewski, Sławomir Czernik, Roman Wacław Lichograj. Tytuł pracy: The use of different metals to coat the microbiological samples imaged with a scanning electron microscope Tytuł całości: W: 4th European Nanomanipulation Workshop : book of abstract / ed. Marek Szymański, Franciszek Krok Miejsce wydania: Kraków Wydawca: Wydawnictwo Uniwersytetu Jagiellońskiego Rok wydania: 2013 Strony zajęte przez pracę: S. P-6 Charakterystyka formalna: streszczenie zjazdowe polskie (książka streszczeń) Charakterystyka merytoryczna: konferencja naukowa międzynarodowa Język publikacji: ENG Słowa kluczowe ang.: scanning electron microscopy ; Staphylococcus aureus ; Pseudomonas aeruginosa ; microbiological samples Uwaga: Kopia dostepna w Dziale Gromadzenia, Opracowania i Kontroli Zbiorów Biblioteki PSW. Projekt/grant: Zastosowanie mikroskopu sił atomowych (AFM) w badaniach adhezji mikroorganizmów do powierzchni nieożywionych : Fundusz Grantów na Badania Własne / PSW Biała Podlaska
3/3
Nr opisu: 0000027159 Autorzy: Sławomir Czernik, Dorota Plewik, Jan Marian Olchowik. Tytuł pracy: Use of different materials and magnetron sputtering process in sample preparation for scanning electron microscopy Tytuł całości: W: Joint Conferences on Advanced Materials: The 10th Conference on Functional and Nanostructured Materials FNMA'13, The 12th Conference on Intermolecular and Magnetic Interactions in Matter IMIM'13, Poros Island, Greece, 8-12 September 2013 : abstract book / ed. Jarosław Rybicki, Krzysztof W. Wojciechowski Miejsce wydania: Gdańsk Wydawca: Task Publishing Rok wydania: 2013 Strony zajęte przez pracę: S. 41 ISBN: 978-83-930549-9-2 Kopia niedostępna: x Charakterystyka formalna: streszczenie zjazdowe międzynarodowe (książka streszczeń) Charakterystyka merytoryczna: konferencja naukowa międzynarodowa Język publikacji: ENG Liczba znaków: 1058 Słowa kluczowe ang.: scanning electron microscopy ; magnetron sputtering process ; sample preparation Projekt/grant: Zastosowanie mikroskopu sił atomowych (AFM) w badaniach adhezji mikroorganizmów do powierzchni nieożywionych : Fundusz Grantów na Badania Własne / PSW Biała Podlaska